专利：抗电磁辐射织物仿真测试仪

　　申请(专利)号：CN200910074176.0申请日：2009.04.20

　　公开(公告)号：CN101526486公开(公告)日：2009.09.09

　　主分类号：G01N23/00(2006.01)I

　　分类号：G01N23/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I

　　申请(专利权)人：河北科技大学

　　地址：050018河北省石家庄市裕华东路70号

　　国省代码：河北;13

　　发明(设计)人：李瑞洲;张丽娟;庞金玲;敖利民;贾立霞

　　专利代理机构：石家庄冀科专利商标事务所有限公司

　　代理人：李羡民;高锡明

　　摘要: 　一种抗电磁辐射织物仿真测试仪，用于解决纺织材料的仿真与测试问题。其技术方案是：构成中包括矢量网络分析仪和法兰同轴装置，法兰同轴装置连接于矢量网络分析仪的插损或回损测试回路中，在法兰同轴装置的中部设置试样架，试样架的外缘上设有间隔均匀的绕线豁口，其中，对边上绕线豁口的间距设置相同，在试样架中心设有与法兰同轴装置内的空腔同轴的圆孔，构成待测试织物的电磁线缠绕在绕线豁口上。本发明能对不同密度电磁线排列的织物进行仿真和测试，进而为设计满足要求的防电磁辐射纺织品提供可靠准确的数据依据，而且结构简单，能对软、硬平面材料进行精确测试。

　　主权项：一种抗电磁辐射织物仿真测试仪，构成中包括矢量网络分析仪(1)和法兰同轴装置(2)，法兰同轴装置(2)连接于矢量网络分析仪(1)的插损或回损测试回路中，其特征是：在法兰同轴装置(2)的中部设置试样架(10)，试样架(10)的外缘上设有间隔均匀的绕线豁口，其中，对边上绕线豁口的间距设置相同，在试样架中心设有与法兰同轴装置(2)内的空腔同轴的圆孔，构成待测试织物的电磁线缠绕在绕线豁口上。